Размер шрифта:
А А А
Цвета сайта:
С С С С С
Изображения
Параметры
К полной версии
Параметры шрифта:
Выберите размер шрифта:
Стандартный
Средний
Большой
Выберите шрифт:
Open Sans
Arial
Times New Roman
Интервал между символами (кернинг):
Стандартный
Средний
Большой
Выбор цветовой схемы:
Черным по белому Белым по черному Темно-синим по голубому Коричневым по бежевому Зеленым по коричневому
Изображения:
Вернуть стандартные настройки Закрыть
EN RU BY
Version for
visually impaired
Normal
Version
mnipi@mnipi.by

Measuring parameters of semiconductor devices IPPP-1

Печать

Описание

  • 4-channel automated system for measuring parameters of semiconductors (including test structures on wafers)
  • The study of the I-V characteristics of 2, 3, 4-pole
  • Parameters of each channel Source / meter: - U: ± 2 V, ± 30 V (200 mA),
  • ± 120 V (± 10 mA), I: ± 20, ± 200 nA, ± 2, ± 20, ± 200 μA, ± 2, ± 10 mA, (± 120 V), ± 20,
  • ± 200 mA (± 30V)
  • Uncertainty of source and meter U, I ± 0.5%
  • U / I meter sensitivity: 10 μV / 0.1 pA
  • Charts, tables, texts, databases
  • RS-232C interface, computer software
  • Dimensions, weight: 450х266х444 mm, 23 kg
  • Power Supply: ~ 220 V, 120 VA

Measuring instrument of parameters of semiconductor devices IPPP-1

  • Measurement of parameters of semiconductor devices (RFP) and control of test structures on wafers during their production, analysis of marriage.
  • Synchronization of measurements with other measuring devices used in tests.
  • Limitation of current and voltage on the measured object according to the set threshold.
  • Cursor measurements.
  • Presentation of the CVC in the form of graphs and tables on the screen of a personal computer (PC).
  • Calculation of the calculated parameters of the SPP and their functional dependencies according to the measurement results.
  • Documentation and transmission of the results of measurements of the RFP parameters in electronic form via the local network of the enterprise
  • Formation of a report on the results.
  • Creating databases of standard tests for products.
  • Working with the analyzer does not require special programming knowledge.

Характеристики

Количество каналов, шт от одного до четырёх
Диапазоны формирования/измерения напряжений каждого канала, В ±2 В; ±30 В (до ±200мА) и ±120 В (до ±10мА)
Погрешность установки/измерения напряжения, % 0,5 %
Диапазоны формирования/измерения тока каждого канала, мА ±0,00002мА; ±0,0002 мА; ±0,002 мА; ±0,02 мА; ±0,2 мА; ±2 мА; ±20 мА (до ±120 В) и ±200 мА (до ±30В)
Погрешность установки/измерения тока, % 0,5 %
иконка
Остались вопросы?
Оставьте заявку и мы ответим на все вопросы
Оставить заявку
В каталог